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【桃園（台湾）2020年3月3日PR Newswire】Chroma ATEはワイヤレスRF、MCUテストと共に、デジタル、アナログ、混合信号測定を組み込んだ完全ワイヤレスステレオ（TWS）チップのテストソリューションを発表する。高性能なChroma 3680テストシステムは、革新的かつ高感度のTWSチップテストのニーズを満足するために高速でテストを提供します。経済的なChroma 3380テストシステムは価格に敏感なIC設計者を満足させるものです。
近年、TWSで使用されるチップはますます広範囲で使用されるようになりました。以前は単にイヤホンに組み込まれていたが、近年ではBluetoothとオーディオ信号用のシンプルなICを対象にしていました。現在のTWSチップはスマートスピーカー、ワイヤレススピーカー、そしてウエアラブルデバイスにさえ採用されています。同時に、TWSチップのテストはワイヤレスBluetooth、デジタル信号から給電、メモリー、センサーなどに至るまで拡大しています。
Chroma ATEの半導体テストソリューションは、ソフトウエアとハードウエアの高度な統合と高品質のデジタルとアナログ半導体を手頃な価格業界から長期にわたり評価されてきました。さらに、Chroma 3380シリーズは中国のMCUテスト市場でトップの地位にあります。また、Chroma 3380シリーズだけで全てのテスト要件を完了できるようにオーディオテストで90dB以上のSN比を実現する内蔵機能を備え、総合的なBluetooth RFテストも提供します。Chroma 3680シリーズは高品質・高感度な製品に高速信号テストを行い、高精度な電圧電流測定を提供します。その混合信号測定サブシステムは110dB以上のSN比をサポートし、特別設計のクイックドック・リリースRF信号接続インターフェースにより、高性能なTWS製品のテストにおいてChroma 3680は高度な安定性を実現しています。
ソース：Chroma ATE Inc.
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（写真説明：Chroma ATE Inc.のロゴ）
（日本語リリース：クライアント提供）
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