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【台北2022年12月27日PR Newswire＝共同通信JBN】産業グレードのストレージと組み込み式ペリフェラルで世界をリードするメーカーInnodisk は、自動光学検査（AOI）アプリケーションが直面している消費者向けDRAMの欠点に関連し、その欠点によって発生する問題へのソリューションを発表した。
Innodisk DDR5 RDIMMが半導体の自動光学検査に威力を発揮
産業用インテグレーターに完全なAIソリューションを提供するInnodisk AIがこのほど発売され、DDR5シリーズDRAMは自動光学検査ソリューションを含むさまざまなアプリケーションで重要な役割を担っている。半導体へのニーズの高まり、そしてプロセスの微細化がますます進む傾向に伴い、半導体生産の欠陥を自動で検出するシステムのニーズが大きく高まっている。現在、AOIシステムは半導体製造工程のすべてのステップで使用されており、その安定性は生産効率にとって最も重要である。
現在のAOIシステムは、メモリー帯域幅、精度、高温といった3つの中核的な問題に直面しており、InnodiskのDDR5 RDIMM（https://www.innodisk.com/en/products/dram-module/server/registered-ddr5-long-dimm ）（レジスタードメモリー）はその解決に役立つ。
▽メモリー帯域幅
トレーニングモデルには大きなメモリー帯域幅が必要なため、低容量のモジュールを使用した場合、AOIシステムはしばしば困難に直面する。InnodiskのDDR5 RDIMMは大容量の32GBや64GBのモジュールでこの問題を解決する。
▽精度
半導体プロセスがナノメートルのレベルまで微細になったことから、AOIシステムに対する解像度要件と精度要件が高まった。InnodiskのDDR5 RDIMMは新しいデュアル40ビットサブチャンネル・アーキテクチャーを採用し、厳格なサイドバンドECCをサポートしており、AOIの高精度な検出要求に対応することができる。
▽高温
AOI システムが提供する高速かつ高精度な検査はDRAM レベルで高い熱を発生し、システム全体の温度を急激に上昇させる可能性がある。InnodiskのDDR5 RDIMMはハードウエアとソフトウエアの両方を統合した2方面戦略により、こうした熱の不安を解決する。モジュールに搭載された2つの熱センサーが周囲の温度を検知し、iCAP（https://www.innodisk.com/en/software/solutions/icap ）（Innodisk Cloud Administration Platform）とiSMART（https://www.innodisk.com/en/software/solutions/ismart ）という2つのソフトウエアツールが温度を監視し、警告メッセージを送信する。
メモリー技術は常に進歩しているが、Innodiskが業界の現状を観察したところ、新しい技術に対する顧客の要望は大きく異なることが判明した。そのため、Innodiskは最も完全な産業グレードのDDR5とDDR4製品だけでなく、DDR3、DDR2、DDR、SDRAMといったレガシー製品も提供している。これらのメモリーモジュールは、今後も安定した価格、独自のIC、そして他のInnodisk製品と同様に、卓越した長期サポートで提供される。
ソース：Innodisk Corporation
